Wafer Silikon Polikristalin Untuk Panel Surya

SIFAT BAHAN

PROPERTI

SPESIFIKASI A

STANDAR REFERENSI A

METODE PERTUMBUHAN

CZ

ORIENTASI KRISTAL

<100>±2º

ASTM F26

JENIS DONOR

P/boron

ASTM F42

KONSENTRASI OKSIGEN

Kurang dari atau sama dengan 1.0x10¹⁸atom/cm3

ASTM F1188 diukur di tengah

KONSENTRASI KERABON

Kurang dari atau sama dengan 5.0x10¹⁶atom/cm3

ASTM F1391 diukur di tengah siput

KEPADATAN DISLOKASI

Kurang dari atau sama dengan 3000pcs/cm3

ASTM F47-88 diukur pada siput di ekor ingot

SIFAT LISTRIK

RESISITIVITAS

1.0-3.0ohm-cm

ASTM F43

SEUMUR HIDUP

Lebih besar dari atau sama dengan 10us

Lebih besar dari atau sama dengan 10us

GEOMETRI

GEOMETRI

PERSEGI

KETEBALAN

180um ± 20um

ASTM F533/EDGE 6MM 4, PUSAT 1

TTV

Kurang dari atau sama dengan 30um

ASTM F567/EDGE 6MM 4, PUSAT 1

DIMENSI

156±0.5um

MELIHAT TANDA

kedalaman Kurang dari atau sama dengan 15um, kedalaman Kurang dari atau sama dengan 15um

ASTM F567

KUALITAS PERMUKAAN

Dibersihkan, tidak ada noda minyak

Profilometer/sj-210

CHIPPING TEPI

kedalaman Kurang dari atau sama dengan {{0}}.3mm, panjang Kurang dari atau sama dengan 0,5mm

Secara kasat mata

LEKUKAN

Kedalaman Kurang dari atau sama dengan {{0}}.3um, panjang Kurang dari atau sama dengan 0,5mm, tidak ada gua bentuk V, total Kurang dari atau sama dengan 2

Secara kasat mata

BUSUR

<40um

Astm f657; dengan kapasitif non-kontak

KEKASARAN (RA)

<1.0um

Profilometer/sj-210

PAKET DAN LABEL

KEMASAN

400 BUAH/PAKET

100 BUAH/TAS

LABEL

BAGIAN NO. PO TIDAK. JUMLAH WAFER, DIMENSI

TEMP, KELEMBABAN